| (21) | N° Dépôt : 42559 |
| (22) | Date de Dépôt : 16.10.2015 |
| (86) | Données relatives à l'entrée en phase nationale selon le PCT : PCT/ES2015/07075416.10.2015 |
| (71) | Demandeur(s) : ABENGOA SOLAR NEW TECHNOLOGIES, C. Energía Solar Nº 1 Palmas Altas E-41014 Sevilla (ES) |
| (72) | Inventeur(s) : CLIMENT SÁNCHEZ, Pablo ; SCHRAMM, Markus ; OÑA ESCATLLAR, Irene |
| (74) | Mandataire : SABA & CO |
| (54) | Titre : ETALONNAGE D'HELIOSTATS D'UNE CENTRALE SOLAIRE THERMOELECTRIQUE |
| (57) | Abrégé : Un procédé d’étalonnage d’un héliostat d’un champ d’héliostats comprend un procédé visant à fournir une transformation linéaire pour convertir des coordonnées tridimensionnelles en coordonnées bidimensionnelles dans des pixels d’une image ; obtenir les coordonnées tridimensionnelles réelles des points des coins de la surface réfléchissante de chaque héliostat ; pour une image capturée par un premier dispositif de prise d’images et une image capturée par un second dispositif de prise d’images à un moment déterminé, obtenir les coordonnées bidimensionnelles des points des coins de la surface réfléchissante ; identifier le contour de la surface réfléchissante de chaque héliostat dans chaque image ; identifier une région d’intérêt dans chaque image. Pour chaque héliostat choisi, ledit procédé consiste à obtenir un premier paramètre de l’intensité des pixels de la région d’intérêt correspondant à l’héliostat dans l’image capturée par le premier dispositif ; obtenir un second paramètre relatif à l’intensité des pixels de la région d’intérêt correspondant à l’héliostat dans l’image capturée par le second dispositif ; déterminer des réglages à appliquer à l’héliostat ; appliquer lesdits réglages. |
