ROYAUME DU MAROC

--------

OFFICE MAROCAIN DE LA PROPRIETE INDUSTRIELLE ET COMMERCIALE

--------

(19)Logo OMPIC

المملكة المغربية

--------

المكتب المغربي

للملكية الصناعية و التجارية

--------

(12)FASCICULE DE BREVET
(11)

N° de publication :

MA 42176 B1

(43)

Date de publication :

29.05.2020

(51)

Cl. internationale :

F24J 2/10; F24J 2/38;

G01S 3/786; F24J 2/54

(21)

N° Dépôt :

42176

(22)

Date de Dépôt :

28.09.2016

(30)

Données de Priorité :

02.10.2015 ES P201531419

(86)

Données relatives à l'entrée en phase nationale selon le PCT :

PCT/ES2016/07068128.09.2016

(71)

Demandeur(s) :

  • FUNDACIÓN CENER-CIEMAT, Ciudad de la Innovación, 7 31621 Sarriguren (navarra) (ES)
  • FUNDACIÓN TEKNIKER, Iñaki Goenaga, 5 20600 Eibar (guipuzcoa) (ES)
(72)

Inventeur(s) :

SÁNCHEZ GONZÁLEZ, Marcelino ; OLARRA URBERUAGA, Aitor ; VILLASANTE CORREDOIRA, Cristóbal ; OLASOLO DON, David ; BURISCH, Michael

(74)

Mandataire :

ABU-GHAZALEH INTELLECTUAL PROPERTY (TMP AGENTS)

(54)

Titre : PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE POUR HÉLIOSTATS

(57)

Abrégé : L'invention concerne un procédé d'étalonnage pour héliostats qui comprend la réalisation d'au moins une recherche pour visualiser au moins une référence au moyen d'un dispositif de vision artificielle placé de manière fixe dans chacun des héliostats à étalonner; à reconnaître la référence recherchée; à réaliser une capture de la référence pour chacune des recherches, la capture comprenant une prise d'image visualisée par le dispositif de vision artificielle dans laquelle apparaît la référence et une lectu