| (21) | N° Dépôt : 41924 |
| (22) | Date de Dépôt : 13.07.2016 |
| (30) | Données de Priorité : 30.07.2015 ES P201531138 |
| (86) | Données relatives à l'entrée en phase nationale selon le PCT : PCT/ES2016/07053113.07.2016 |
| (71) | Demandeur(s) : ABENGOA SOLAR NEW TECHNOLOGIES, S.A., C/ Energía Solar nº 1 41014 Sevilla (ES) |
| (72) | Inventeur(s) : MARTINEZ SANZ, Noelia ; HERAS VILA, Carlos ; ALONSO ESTEBAN, Rafael ; SALINAS ARIZ, Iñigo ; IZQUIERDO NUÑEZ, David ; ALCAÑIZ GARCIA, Carlos ; PELAYO GIL, Cristina ; ZARZA ESCOBAR, Victor |
| (74) | Mandataire : ABU-GHAZALEH INTELLECTUAL PROPERTY (TMP AGENTS) |
| (54) | Titre : DISPOSITIF ET SYSTÈME DE MESURE OPTIQUE DU COEFFICIENT DE RÉFLEXION D’UNE SURFACE |
| (57) | Abrégé : La présente invention concerne un dispositif innovant de mesure optique du coefficient de réflexion d’une surface (1), ledit dispositif comprenant un ou plusieurs canaux optiques comprenant chacun une pluralité de DEL (2) pour l’émission d’un faisceau d’éclairage dans une ou plusieurs longueurs d’onde ; un premier photodétecteur (4) destiné à mesurer le faisceau d’éclairage direct des DEL dans le canal optique d’éclairage; un diaphragme (5) située à la sortie du canal optique d’éclairage, pour limiter l’ouverture de sortie du faisceau d’éclairage ; une lentille (6) disposée de manière à recevoir le faisceau réfléchi par une surface (1) et pour mettre au point ledit faisceau ; et un second photodétecteur (8) pour mesurer le signal du faisceau d’éclairage réfléchi par la surface (1) à mesurer. Le dispositif selon la présente invention est capable de réduire à un minimum la quantité de lumière diffuse présente lors de la mesure, tout en conservant une tolérance intrinsèque élevée de la mesure vis-à-vis de différentes courbures et de différentes épaisseurs de réflecteurs, sans nécessiter la réalisation d’un réglage additionnel sur ledit dispositif. |
