(72) | Inventeur(s) : COUTURIER, Raphaël ; DELORD, Christine ; BOUQUET, Céline ; RACCURT, Olivier |
(57) | Abrégé : L'invention concerne un procédé de surveillance d'un miroir comprenant un premier empilement comprenant une première couche (14), une deuxième couche réfléchissante (10) comprenant des première et deuxième faces opposées, la première face réfléchissant la lumière et la première couche recouvrant la deuxième face, et une troisième couche transparente au rayonnement solaire (12) formée sur la première face, le procédé comprenant les étapes suivantes : mesurer (32) la couleur de la première couche (14); et analyser (34, 36, 38) l'évolution de ladite mesure pour caractériser la dégradation de la deuxième couche (10). |