| (57) | Abrégé : L'invention concerne un ensemble de contact de test par pincement qui peut être utilisé afin de pincer un composant de sorte que le composant soit maintenu en une position fixe pendant son traitement, laquelle pince comprend un premier doigt monté pivotant en un premier point de pivot et un second doigt monté pivotant en un second point de pivot de sorte que le premier doigt et le second doigt puissent chacun pivoter vers un plan central. Le premier doigt et le second doigt comprennent chacun une surface entrant en coopération avec un composant à pincer, le premier doigt et le second doigt comprenant chacun un moyen d'arrêt entrant en coopération avec un composant à pincer afin de limiter le mouvement du composant par rapport au doigt respectif, de sorte que l'application d'une force sur le composant fait que le premier et le second doigt pincent le composant. L'invention concerne en outre une station de traitement comprenant une telle pince, et un procédé correspondant de pincement d'un composant ainsi qu'un procédé de traitement d'un composant. |
